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華測(cè)儀器介電常數(shù)及介質(zhì)損耗介損測(cè)試儀通過NIM校準(zhǔn)
華測(cè)儀器介電常數(shù)及介質(zhì)損耗介損測(cè)試儀通過NIM校準(zhǔn) 發(fā)布時(shí)間:2026-01-13
2025年12月26日,北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司自主研發(fā)的HC-Q37a型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)正式通過中國計(jì)量科學(xué)研究院(NIM)校準(zhǔn),并取得校準(zhǔn)證書(證書編號(hào):DCjz2025-02729)。該認(rèn)證表明,設(shè)備在電容與介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)量方面符合國家計(jì)量標(biāo)準(zhǔn),具備可溯源性與高測(cè)...
  • 2022

    1-17
    熱釋電系數(shù)測(cè)試儀的熱釋電紅外傳感器和熱電偶介紹
    熱釋電系數(shù)測(cè)試儀基于熱釋電動(dòng)態(tài)電流法設(shè)計(jì),由溫度控制器、加熱爐體、微電流放大器、溫度測(cè)試儀以及計(jì)算機(jī)軟件系統(tǒng)組成。溫度控制器控制加熱爐體內(nèi)部溫度;樣品的電流信號(hào)通過微電流放大器、輸入到計(jì)算機(jī);而溫度信號(hào)則直接通過溫度測(cè)試儀傳送到計(jì)算機(jī)。能測(cè)量具有熱釋電的單晶、陶瓷、厚膜及薄膜材料...
  • 2022

    1-14
    華測(cè)產(chǎn)品升級(jí)新通知
    產(chǎn)品名稱:表面體積電阻率測(cè)試儀(高阻計(jì))=產(chǎn)品新:1、全新升級(jí)面板;外觀美觀;2、增加觸摸屏、清晰明了;3、增加電源操作指示燈;4、按鍵操作方便、快捷;5、全新產(chǎn)品測(cè)試范圍廣、穩(wěn)定;6、電流采集功能可單獨(dú)使用;一、產(chǎn)品介紹:表面體積電阻率既可測(cè)量超高電阻,又可測(cè)極微弱電流。采用了...
  • 2021

    12-31
    元旦休假通知
    各位客戶及同仁朋友,根據(jù)《國務(wù)院辦公廳關(guān)于2022年部分節(jié)假日安排的通知》及本公司福利政策,我司2022年元旦放假有關(guān)事宜通知如下:一、2022年1月1日(星期六)至1月3日(星期一)放假,共三天;1月4日(星期二)照常上班。二、各部門、各辦公室要落實(shí)好工作責(zé)任制,防火防盜,避免...
  • 2021

    12-28
    電弱點(diǎn)測(cè)試儀符合標(biāo)準(zhǔn)介紹
    電弱點(diǎn)測(cè)試儀試驗(yàn)電壓是0-20kV交直流電壓,其波動(dòng)為±1%。電弱點(diǎn)測(cè)試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極,導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿,擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。電弱點(diǎn)測(cè)試儀是根...
  • 2021

    12-22
    電弱點(diǎn)測(cè)試儀的試驗(yàn)電壓是多少?
    電弱點(diǎn)測(cè)試儀是根據(jù)GB/T13542-92、IEC60674-2:1988電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙烯薄膜等絕緣材料早給定直流電壓下每平方的擊穿點(diǎn)數(shù)。本機(jī)采用計(jì)算機(jī)控制,可對(duì)實(shí)驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、采集、處理,并可存取...
  • 2021

    11-24
    高溫四探針測(cè)試儀提高了薄膜電阻和體電阻率測(cè)量精度
    高溫四探針測(cè)試儀可以實(shí)現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測(cè)量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率和外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。高溫四探針測(cè)試儀是測(cè)量電阻率的一種方法,測(cè)量電阻率的方法很多,如三探針法、電容-電壓法、擴(kuò)展電阻法等,四探...
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